Członek VIP
Ultra-wysoka rozdzielczość mikroskopu elektronowego emitującego pole Shott SU8700
Wraz z szybkim rozwojem technologii pozyskiwania i przetwarzania danych, mikroskop elektroniczny wchodzi w erę, w której nie tylko jakość danych, ale
Szczegóły produktu
Ultra-wysoka rozdzielczość mikroskopu elektronowego emitującego pole Shott SU8700
Wraz z szybkim rozwojem technologii pozyskiwania i przetwarzania danych, mikroskop elektroniczny wchodzi w erę, w której nie tylko jakość danych, ale także proces ich pozyskiwania. SU8700 jako SEM zorientowany na nową erę, w oparciu o wysoką jakość obrazu i wysoką stabilność utrzymywaną w elektroskopie Hitachi, dodaje funkcje o wysokim przepustowości, w tym automatyczne pozyskiwanie danych.
- *
- Zdjęcia urządzenia zawierają opcje.
-
Cechy
-
specyfikacja
Cechy
Obserwacja o bardzo wysokiej rozdzielczości i niezwykłe możliwości analizy
Hitachi High Brightness Short Field emituje pistolet elektroniczny, który umożliwia jednocześnie obserwację o bardzo wysokiej rozdzielczości i szybką analizę mikropromieni. Bez zastosowania zwolnienia próbki, obserwacje o wysokiej rozdzielczości mogą być przeprowadzane przy niskim napięciu przyspieszenia tylko 0,1 kV, aby dostosować się do większej liczby scenariuszy zastosowań. Jednocześnie dostępne są nowe detektory i inne bogate opcje, aby zaspokoić większe wymagania obserwacyjne.
Zaawansowana automatyka*
EM Flow Creator umożliwia klientom tworzenie zautomatyzowanego przepływu pracy w celu ciągłego pozyskiwania obrazów. EM Flow Creator definiuje różne funkcje SEM jako moduły graficzne, takie jak ustawienie powiększenia, poruszanie pozycji próbki, regulacja odległości ogniskowej i kontrastu jasnego i ciemnego. Użytkownik może przeciągnąć te moduły w logicznej kolejności w jednym programie roboczym. Po debugowaniu i potwierdzeniu program może automatycznie uzyskać wysokiej jakości, reprodukcyjne dane obrazowe przy każdym połączeniu.
Mocne funkcje wyświetlania i interakcji
Natywna obsługa podwójnego wyświetlacza zapewnia elastyczną i wydajną przestrzeń operacyjną.
6 kanałów jednocześnie wyświetla i zapisuje, umożliwiając szybką obserwację i pozyskiwanie wielu sygnałów, aby przynieść więcej informacji.
Obsługa maksymalnie 40 960 x 30 720 pikseli w jednym skanie*
Duże pole widzenia i obrazowanie o wysokich pikselach
Na lewym zdjęciu znajduje się wysokopikselowy obraz o polu widzenia około 120 μm, z jednym skanem zebranych szczurów ultracienkich próbek. Powiększ obraz żółtego prostokątnego obszaru prostą liczbą, aby uzyskać prawy obraz. Prawy rysunek odpowiada 20-krotnemu powiększeniu liczby na lewym rysunku, nadal można jasno potwierdzić wewnętrzną strukturę komórek nerwowych.
Jednorazowe skanowanie pikseli SU8600 i SU8700 do 40 960 x 30 720.*
* Opcjonalne
specyfikacja
| Elektroniczne systemy optyczne | Druga rozdzielczość elektroniczna | 0.8 nm@15 kV |
|---|---|---|
| 0.9 nm@1 kV | ||
| Powiększ | 20 ~ 2,000,000 x | |
| Broń elektroniczna | Wysyłanie źródła elektronicznego na polu bazowym Short | |
| Napięcie przyspieszone | 0.1 ~ 30 kV | |
| Napięcie lądowe*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
| Maksymalny przepływ | 200 nA | |
| Detektory | Wykrywacze standardowe | Wykrywacz górny (UD) |
| Dolny detektor (LD) | ||
| Detektor opcjonalny*3 | Wykrywacz rozproszenia elektronicznego w lustrze (MD) | |
| Półprzewodnikowy detektor elektronów z rozproszeniem zwrotnym (PD-BSE) | ||
| Wysoko czuły detektor niskiej próżni (UVD) | ||
| Skanowanie detektorów transmisji (STEM) | ||
| Opcjonalne załączniki*2 | Spektrometr rentgenowski (EDS) | |
| Wykrywacz dyfrakcji rozproszenia elektronicznego (EBSD) | ||
| Przykładowy stołek | Osi napędowe silnika | Napęd silnika 5 osi |
| Zakres przenoszenia | ||
| X | 0 ~ 110 mm | |
| Y | 0 ~ 110 mm | |
| z | 1.5 ~ 40 mm | |
| T | -5 ~ 70° | |
| R | 360° | |
| Pokój próbek | Rozmiar próbki | Maksymalna średnica: 150 mm*4 |
| Tryb niskiej próżni | Zakres próżni | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- W trybie spowolnienia
- *2
- Konfigurowalne detektory
- *3
- Opcje
- *4
- Skontaktuj się z nami, jeśli masz większy rozmiar próbki.
Powiązane kategorie produktów
- System wiązki jonowej (FIB/FIB-SEM)
- Urządzenie do przedobróbki próbek TEM/SEM
Zapytanie online
-
Kontakty
-
Firma
-
Telefon
-
E-mail
-
WeChat
-
Kod weryfikacji
-
Zawartość wiadomości
-